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napson4 探針法電阻率和薄層電阻測(cè)量儀器的探頭功能是什么?

更新時(shí)間:2023-09-04      瀏覽次數(shù):739

產(chǎn)品特點(diǎn)/功能

Napson 的 4 探頭測(cè)量系統(tǒng)采用盒式(*部分為 Jandel 原創(chuàng)類型)。我們還為其他公司的設(shè)備提供 6 針連接器類型和小型模塊類型。

(1) 墨盒類型(Napson 原裝)[第 1 張產(chǎn)品圖片]
(2) Jandel 原裝類型 [第 2 張產(chǎn)品圖片]

Jandel探頭高精度要求的半導(dǎo)體和金屬薄膜的電阻率和方塊電阻測(cè)量,多年來一直受到高度評(píng)價(jià)。

  • *由于采用V形彈簧,觸針壓力始終穩(wěn)定。

  • *頂部和底部寶石導(dǎo)軌均用于固定針尖,從而實(shí)現(xiàn)出色的針間精度和穩(wěn)定性。

  • *軸是一體的,因此不易斷裂,并且具有出色的耐用性。


測(cè)量規(guī)格

根據(jù)待測(cè)樣品的材料、表面狀況和形狀選擇類型。

推薦參考示例

目標(biāo)樣品探頭頭
(材料/半徑)
針壓/書
硅錠塊TC-40u200克
硅片TC-40u200克
外延層TC-150u100克
薄外延層TC-150u、500u50克
薄層如淺擴(kuò)散操作系統(tǒng)-200u、500u50克
擴(kuò)散層OS-200u、TC-150u100克
離子注入TC-150u50克、100克
金屬薄膜TC-150u、500u25克、50克、100克
ITO薄膜 TC-150u、500u25克、50克、100克


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